Podstawy pomiarów

39.44

Opis

Podręcznik został opracowany jako podstawowa pomoc dydaktyczna do przedmiotów Podstawy pomiarów i Metrologia wykładanych na Wydziale Elektroniki i Technik Informacyjnych Politechniki Warszawskiej. Ponieważ celem wykładu i laboratorium z tych przedmiotów jest nauczenie studentów technik eksperymentu oraz zasad funkcjonowania podstawowej aparatury pomiarowej, zdecydowano się na położenie nacisku na umiejętności zaplanowania eksperymentu, właściwy dobór aparatury pomiarowej, analizę niepewności pomiarowych oraz na krytyczne podejście do przeprowadzonego doświadczenia i uzyskanych wyników. Zwrócono także uwagę na różnice występujące między analogowymi i cyfrowymi metodami pomiarowymi.Ponieważ aktualnie przedmioty Podstawy pomiarów i Metrologia są prowadzone na pierwszym lub drugim semestrze studiów, co powoduje, że studenci nie posiadają jeszcze wystarczającej wiedzy z teorii obwodów, matematyki czy układów elektronicznych, w podręczniku wprowadzano i szczegółowo wyjaśniano nowe dla nich pojęcia i zasady działania nieznanej aparatury. Przedstawione treści dotyczą głównie wiedzy poruszanej na wykładzie. Uzupełnieniem podręcznika jest zbiór instrukcji do wykonywania ćwiczeń dostępny w wersji elektronicznej. AUTOR PRACA ZBIOROWA TYTUŁ PODSTAWY POMIARÓW WYDAWCA OFICYNA WYDAWNICZA POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ ROK WYDANIA 2019 FORMAT 176 X 250 MM OPRAWA OPRAWA BROSZUROWA ILOŚĆ STRON 364 EAN 9788378148074 Znajdź podobne według klucza: OFICYNA_WYDAWNICZA_POLITECHNIKI_WARSZAWSKIEJ PODSTAWY (364531)

Informatyka

ile euro do grecji, project cars tychy, vat na nawozy 2020, oświadczenie o przepracowanych godzinach, albo inaczej 2 utwory, kwarantanna w danii, marzec 2022 ile godzin pracy

yyyyy